增駿XAD-200全自動(dòng)型膜厚儀介紹：

增駿XAD-200全自動(dòng)型膜厚儀既保留了專(zhuān)用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿(mǎn)足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺實(shí)現XYZ軸編程位移，實(shí)現無(wú)人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入先進(jìn)的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專(zhuān)用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿(mǎn)足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺實(shí)現XYZ軸編程位移，實(shí)現無(wú)人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入先進(jìn)的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2

擁有無(wú)損變焦檢測技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測，凹槽深度范圍0-90mm

核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺，可實(shí)現無(wú)人值守，對成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測

涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

RoHS、鹵素有害元素檢測

人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

標配四準直器自動(dòng)切換

配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度小于10%

XAD-200廣泛應用于半導體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、航天航空、環(huán)保行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)、衛浴行業(yè)、精密電子等